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数显台式薄膜测厚仪

数显台式薄膜测厚仪THK-01是济南众测机电设备有限公司研发生产的测厚仪器,符合多项国际标准,广泛应用于塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度测量,,也称为机械接触式测厚仪、台式厚度测量仪

  • 产品型号:THK-01
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-03-28
  • 访  问  量:200
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产品详情

对于塑料薄膜来讲,厚度是影响力学性能、阻隔性的因素之一,需要在质量和成本上的指标。塑料薄膜厚度是指一定条件下测得的试样的界面距离。鉴定标准只适用于光面、未经压花的薄膜。厚度测定的目的是为了弄清薄膜厚度的差异,同时,也是进行其它测试时所必需的数据之一。测定时所施加压力的大小具有重要意义,薄膜越软则影响越大,软质薄膜的测定压力应为0.25公斤/厘米2,硬质薄膜为3公斤/厘米2。大于上述测定压力,薄膜会受压缩,另一方面,也应防止将测定器过快触及被测薄膜,否则,使软质薄膜变形。上述情况均会影响测定结果。测试时必须将薄膜平整地放在测定仪的测定位置上,必须定期复核厚度测定器的准确度。


塑料薄膜厚度检测用什么仪器设备?

 数显台式薄膜测厚仪THK-01主要适用于薄膜、复合膜、纸张、金属箔片、硬片、纸板等硬质和软质材料厚度准确测量,分辨率达0.1μm,本厚度测定仪采用接触式测试原理,截取一定尺寸试样,测厚仪测量头自动降落于试样之上,依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。

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 数显台式薄膜测厚仪THK-01THK-01主要参数

通用名称:测厚仪

测量范围:0~2mm(标配);0~6mm、0~12mm(选配)

分辨率:0.1μm

测试速度:1~25次/min

测量头平行度±2μm(机械调整,量块校验)

重复性0.3μm

测量压力17.5±1kPa(薄膜)、50±1kPa(纸张)

接触面积:50mm²(薄膜); 200mm² (纸张);

薄膜、纸张任选一种,非标可定制

电源AC220V50Hz/ AC120V60Hz

外形尺寸300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)

约净重15Kg


 


参照标准

GB/T6672(塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法)、GB/T451.3(GB/T451.3纸张和纸板厚度测定方法)、GB/T6547(瓦楞纸板的厚度测量准则)、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817       GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》






测厚仪生产厂家

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